Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів
2

Built-in current testing for CMOS logic circuits using random patterns

Рік:
1994
Мова:
english
Файл:
PDF, 829 KB
english, 1994
3

Sequential retrieval of B-trees and a file structure with a dense B-tree index

Рік:
1999
Мова:
english
Файл:
PDF, 506 KB
english, 1999
5

Random pattern testable design with partial circuit duplication and IDDQ testing

Рік:
1999
Мова:
english
Файл:
PDF, 324 KB
english, 1999
9

A built-in test for functional testing in semiconductor random access memory

Рік:
1987
Мова:
english
Файл:
PDF, 706 KB
english, 1987
26

Adaptive Keypose Extraction from Motion Capture Data

Рік:
2014
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.15 MB
english, 2014